|
|
1.
|
Lokalizacja uszkodzeń w systemach mikroprocesorowych / James W. Coffron ; z ang. przeł.: Jacek Luty, Wiesław Popielski.
autorstwa: Coffron, James W | Luty, Jacek [Tł.] | Popielski, Wiesław [Tł.] | Wydawnictwa Naukowo-Techniczne [pbl]. Rodzaj materiału:  Książka; Format:
druk ; Forma literacka:
Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze:
Odbiorca wyspecjalizowany; Wydawca: Warszawa : Wydawnictwa Naukowo-Techniczne, 1985Inny tytuł: Practical troubleshooting techniques for microprocessor systems.Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: [Sygnatura: 34845] (1).
|
|
|
2.
|
Lokalizacja uszkodzeń w układach cyfrowych / James Coffron ; z ang. przeł. Jacek Luty, Wiesław Popielski.
autorstwa: Coffron, James W | Luty, Jacek [Tł.] | Popielski, Wiesław [Tł.] | Wydawnictwa Naukowo-Techniczne [pbl]. Rodzaj materiału: Książka; Format:
druk ; Forma literacka:
Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze:
Odbiorca wyspecjalizowany; Wydawca: Warszawa : Wydawnictwa Naukowo-Techniczne, 1982Inny tytuł: Getting started in digital troubleshooting.Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: [Sygnatura: 33788] (1).
|
