Lokalizacja uszkodzeń w systemach mikroprocesorowych / James W. Coffron ; z ang. przeł.: Jacek Luty, Wiesław Popielski.
Coffron, James W.
Luty, Jacek [Tł.] | Popielski, Wiesław [Tł.] | Wydawnictwa Naukowo-Techniczne [pbl].
Rodzaj materiału:
KsiążkaWydawca: Warszawa : Wydawnictwa Naukowo-Techniczne, 1985Opis: 224 s. : il. ; 24 cm.ISBN: 8320407117.Inny tytuł: Practical troubleshooting techniques for microprocessor systems [Tyt. oryg.:].Tematy: Mikroprocesory -- defekty | Wykrywanie uszkodzeń (inżynieria)
| Typ dokumentu | Obecna lokalizacja | Sygnatura | Status | Termin zwrotu |
|---|---|---|---|---|
Książki
|
Magazyn | 34845 (Przeglądaj półkę) | Dostępny |
Dla inżynierów, techników i hobbystów, którzy zajmują się lokalizacją i usuwaniem uszkodzeń w układach, urządzeniach i elementach składających się na systemy mikroprocesorowe.
Brak komentarzy dla tego tytułu.