Pomiar parametrów rezonatora kwarcowego w czwórniku typu Pi z wykorzystaniem techniki zera fazy - Podstawowa metoda pomiaru dwójnikowych parametrów rezonatorów kwarcowych w czwórniku typu Pi z kompensacją pojemności równoległej Co z wykorzystaniem techniki fazowej w zakresie częstotliwości do 200 MHz = Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a -network - Part 3: Basic method for the measurement of two-terminal parameters of quartz crystal units up to 200 MHz by phase technique in a w-network with compensation of the parallel capacitance <(kursiv)C><(Index)0> PN-IEC 444-3:1996P / NKP nr 58.
Polska. Polski Komitet Normalizacyjny [Instytucja sprawcza]
.
Wydawca: Warszawa : PKN, 1996Opis: 17 stron ; 30 cm.Typ zawartości: Tekst Tryb odtwarzania: Bez urządzenia pośredniczącego Typ nośnika: WoluminISBN: 8370018424.Inny tytuł: PN-IEC 444-3 [Inny tytuł] | ICS 31.140 [Inny tytuł] | Polska Norma [Inny tytuł] | Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a -network - Part 3: Basic method for the measurement of two-terminal parameters of quartz crystal units up to 200 MHz by phase technique in a w-network with compensation of the parallel capacitance <(kursiv)C><(Index)0>.
| Typ dokumentu | Obecna lokalizacja | Sygnatura | Status | Uwagi | Termin zwrotu |
|---|---|---|---|---|---|
Książki
|
Księgozbiór Podręczny | PN-IEC 444-3:1996P (Przeglądaj półkę) | Nie do wypożyczenia | print, aktualna |
Niniejsza norma jest tłumaczeniem oficjalnej wersji normy IEC 444-3:1986 [...].
Wprowadza IEC TR 60444-3:1986, IDT ; Ustanowiona przez Polski Komitet Normalizacyjny dnia 5 lutego 1996 r.
Brak komentarzy dla tego tytułu.