Pomiar parametrów rezonatora kwarcowego w czwórniku typu Pi z wykorzystaniem techniki zera fazy - Podstawowa metoda pomiaru dwójnikowych parametrów rezonatorów kwarcowych w czwórniku typu Pi z kompensacją pojemności równoległej Co z wykorzystaniem techniki fazowej w zakresie częstotliwości do 200 MHz = Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a -network - Part 3: Basic method for the measurement of two-terminal parameters of quartz crystal units up to 200 MHz by phase technique in a w-network with compensation of the parallel capacitance <(kursiv)C><(Index)0> PN-IEC 444-3:1996P /
PN-IEC 444-3 ICS 31.140 Polska Norma Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a -network - Part 3: Basic method for the measurement of two-terminal parameters of quartz crystal units up to 200 MHz by phase technique in a w-network with compensation of the parallel capacitance <(kursiv)C><(Index)0>
NKP nr 58.
- Warszawa : PKN, 1996.
- 17 stron ; 30 cm.
Niniejsza norma jest tłumaczeniem oficjalnej wersji normy IEC 444-3:1986 [...]. Wprowadza IEC TR 60444-3:1986, IDT ; Ustanowiona przez Polski Komitet Normalizacyjny dnia 5 lutego 1996 r.
8370018424
Niniejsza norma jest tłumaczeniem oficjalnej wersji normy IEC 444-3:1986 [...]. Wprowadza IEC TR 60444-3:1986, IDT ; Ustanowiona przez Polski Komitet Normalizacyjny dnia 5 lutego 1996 r.
8370018424