000 01744cam a2200469 i 4500
999 _c8751
_d8751
001 vtls000202636
003 NUKAT
005 20180827115240.0
008 031106s1973 pl a f |000 0 pol c
035 _azz2003954030
039 9 _a201205141155
_bkopps
_c201204231040
_dvapkr
_c201106271056
_dpsl
_c201104191547
_dkopuam
040 _aKR 93/AP
_cKR 93/AP
_dKR 93/MN
_dKR 93/BZs
041 1 _apol
_hrus
100 1 _aKovtonûk, Nikolaj Filippovič.
245 1 0 _aPomiary parametrów materiałów półprzewodnikowych /
_cNikołaj F. Kowtoniuk, Julij Koncewoj ; [wyd. polskie uzupełnili rozdz. 12: Stanisław Sikorski, Edward Stolarski, Jarosław Świderski ; z jęz. ros. tł. Stanisław Andrzej Ignatowicz, Andrzej Mikułko].
246 1 _iTyt. oryg.:
_aIzmereniâ parametrov poluprovodnikovyh materialov
260 _aWarszawa :
_bPaństwowe Wydawnictwo Naukowe,
_c1973.
300 _a454, [1] s. :
_bil. ;
_c21 cm.
504 _aBibliogr. s.435-[450].
650 _aElektronika
_xmateriały.
650 _aPółprzewodniki.
700 1 _aKoncevoj, Ûlij Abramovič.
700 1 _aSikorski, Stanisław.
700 1 _aStolarski, Edward
_d(1928-1999).
700 1 _aŚwiderski, Jarosław.
700 1 _aIgnatowicz, Stanisław Andrzej.
_eTł.
700 1 _aMikułko, Andrzej.
_eTł.
942 _2ddc
_cBK
956 _aKR_119
967 _aLUBL_U
980 _aSZCZ_ZUT