| 000 | 01570cam a2200409 i 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 005 | 20171212141555.0 | ||
| 008 | 040730s1984 pl a f |000 0 pol c | ||
| 020 | _a8320603463 | ||
| 035 | _azz2004790139 | ||
| 039 | 9 |
_a201709011021 _bkopwat _c201708301441 _dkopilwa _c201708111159 _dvamwa _c201708081215 _dvamwa _y200407302016 _zbuwr |
|
| 040 |
_aWR U/Chm _cWR U/kl _dWR U/jcs _dWR U/jc _dOLSZT 003/bak |
||
| 245 | 0 | 0 |
_aMiernictwo elementów półprzewodnikowych i układów scalonych / _cKrzysztof Badźmirowski [et al]. |
| 260 |
_aWarszawa : _bWydawnictwa Komunikacji i Łączności, _c1984. |
||
| 300 |
_a605, [3] s. : _bil. ; _c25 cm. |
||
| 500 | _aISBN wyłącznie na obwolucie. | ||
| 504 | _aBibliogr. przy rozdz. | ||
| 521 | 8 | _aDla inżynierów i techników pracujących w przemyśle elektronicznym oraz studntów wyższych uczelni technicznych. | |
| 650 |
_aPółprzewodniki _xpomiar. |
||
| 650 |
_aUkłady scalone _xpomiar. |
||
| 700 | 1 |
_aBadźmirowski, Krzysztof _d(1928-2006). |
|
| 710 | 2 |
_aWydawnictwa Komunikacji i Łączności. _4pbl |
|
| 920 | _a83-206-0346-3 | ||
| 953 | _aKR_93 | ||
| 959 | _aLUBL_64 | ||
| 961 | _aWA_310 WA_510 WA_72 | ||
| 966 | _aPOZN_31 POZN_U | ||
| 967 | _aLUBL_U | ||
| 968 | _aTOR_U | ||
| 970 | _aWA_162 WA_U | ||
| 972 | _aWR_004 WR_U | ||
| 973 | _aGL_001 KAT_U | ||
| 978 | _aOLSZT_003 | ||
| 979 | _aBSTOK_U | ||
| 980 | _aSZCZ_ZUT | ||
| 982 | _aBYDG_24 | ||
| 999 |
_aVIRTUA40 m _c8420 _d8420 |
||
| 999 | _aVTLSSORT0010*0080*0200*0350*0390*0400*2450*2600*3000*5000*5040*5210*6500*6501*7000*9200*9520*9590*9610*9660*9680*9700*9720*9730*9780*9992 | ||