000 00961cam a2200301 i 4500
999 _c3294
_d3294
001 vtls001707129
003 NUKAT
005 20181109092542.0
008 100615s1966 pl a f f |000 0 pol c
035 _axx001707129
039 9 _a201809261015
_bvpw
_c201701240008
_dAUTHORITY
_c201612020225
_dVLOAD
_c201612011504
_dpam
040 _aKR 93/AG
_cKR 93/MM
_dKR 93/MM
_dKR 93/MSs
_dGL 001/IFW
100 1 _aObalski, Jan
_d(1898-1968).
245 1 0 _aPodstawy metrologii /
_cJan Obalski.
260 _aWarszawa :
_bWydawnictwa Politechniki Warszawskiej,
_c1966.
300 _a298 s. :
_bil. ;
_c25 cm.
490 1 _aSkrypty WPW
504 _aBibliogr. s. 297-298.
650 _aPomiar
_vpodręczniki akademickie.
710 2 _aPolitechnika Warszawska.
_bWydawnictwa (1958?-1992).
_4pbl
830 0 _aSkrypty WPW
942 _2ddc
_cBK