| 000 | 01270cam a2200361 i 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 005 | 20171212141818.0 | ||
| 008 | 991008s1991 pl a f |000 0 pol c | ||
| 020 | _a8320609569 | ||
| 035 | _axx001603245 | ||
| 039 | 9 |
_a201710170016 _bAUTHORITY _c201612151230 _dkopilwa _c201309040118 _dVLOAD _c201309032252 _dqam _y201005051259 _zVLOAD |
|
| 040 |
_aNUKAT _cKR 93/IZ _dKR 93/BZ _dGL 001/JK |
||
| 100 | 1 |
_aSowiński, Andrzej _d(1922-1996). |
|
| 245 | 1 | 0 |
_aAutomatyczne testowanie w mikroelektronice / _cAndrzej Sowiński. |
| 260 |
_aWarszawa : _bWydawnictwa Komunikacji i Łączności, _c1991. |
||
| 300 |
_a432 s., [1] k. tabl. luz. : _bil. ; _c24 cm. |
||
| 504 | _aBibliogr. s. 415-432. | ||
| 650 |
_aMikrokomputery _xpróby. |
||
| 650 |
_aUkłady scalone cyfrowe _xpróby. |
||
| 650 |
_aMikroprocesory _xpróby. |
||
| 710 | 2 |
_aWydawnictwa Komunikacji i Łączności. _4pbl |
|
| 920 | _a83-206-0956-9 | ||
| 953 | _aKR_93 | ||
| 959 | _aLUBL_64 | ||
| 961 | _aWA_310 | ||
| 962 | _aKR_U | ||
| 966 | _aPOZN_31 | ||
| 967 | _aLUBL_U | ||
| 968 | _aTOR_U | ||
| 973 | _aGL_001 | ||
| 979 | _aBSTOK_U | ||
| 980 | _aSZCZ_ZUT | ||
| 999 |
_aVIRTUA _c2314 _d2314 |
||
| 999 | _aVTLSSORT0010*0080*0200*0350*0390*0400*1000*2450*2600*3000*5040*6500*6501*6502*7100*9200*9520*9530*9590*9620*9660*9670*9680*9730*9790*9992 | ||