000 01376cam a2200301 i 4500
999 _c21539
_d21539
001 vtls000545177
003 NUKAT
005 20220113114502.0
008 050914s2005 pl f |000 0 pol c
020 _a8324356983
035 _azz2005872163
039 9 _a201310310116
_bVLOAD
_c201310300143
_dVLOAD
_c200701080121
_dVLOAD
_c200510100826
_dkopumk
040 _aKIEL 008/ND
_cKIEL 008/ND
_dKIEL 008/BD
041 1 _apol
_heng
245 0 0 _aZłącza do urządzeń elektronicznych - Badania i pomiary - Cz. 3-1: Badanie 3a: Rezystancja izolacji PN-EN 60512-3-1:2005P /
_cPolski Komitet Normalizacyjny.
246 3 0 _aPN-EN 60512-3-1:2005
246 1 3 _aConnectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 3-1: Insulations tests - Test 3a: Insulation resistance (IEC 60512-3-1:2002)
260 _aWarszawa :
_bPKN,
_c2005.
300 _a4 s. ;
_c30 cm.
500 _aICS 31.220.10.
590 _aWprowadza EN 60512-3-1:2002, IDT; IEC 60512-3-1:2002, IDT; Zastępuje PN-EN 60512-3-1:2002 (U); Zatwierdzona 14 grudnia 2004 r.
951 _aKIEL_008
710 1 _aPolska.
_bPolski Komitet Normalizacyjny.
_91107
710 1 _aPolska.
_bPolski Komitet Normalizacyjny.
_bWydział Wydawnictw Normalizacyjnych.
_4pbl
_91108
942 _2ddc
_cBK