000			00531 a2200085 4500
999			_c20646 _d20646
003			WA 310
005			20220322133225.0
008			220322s1996 pl ||||f u||| 000 0 pol d
020			_a8370018424
040			_aWA 310 _cWA 310
041			_apol
245	0	0	_aPomiar parametrów rezonatora kwarcowego w czwórniku typu Pi z wykorzystaniem techniki zera fazy - Podstawowa metoda pomiaru dwójnikowych parametrów rezonatorów kwarcowych w czwórniku typu Pi z kompensacją pojemności równoległej Co z wykorzystaniem techniki fazowej w zakresie częstotliwości do 200 MHz = _bMeasurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a -network - Part 3: Basic method for the measurement of two-terminal parameters of quartz crystal units up to 200 MHz by phase technique in a w-network with compensation of the parallel capacitance <(kursiv)C><(Index)0> PN-IEC 444-3:1996P / _cNKP nr 58.
246	1	3	_aPN-IEC 444-3
246	1	3	_aICS 31.140
246	1	3	_aPolska Norma
246	3	1	_aMeasurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a -network - Part 3: Basic method for the measurement of two-terminal parameters of quartz crystal units up to 200 MHz by phase technique in a w-network with compensation of the parallel capacitance <(kursiv)C><(Index)0>
260			_aWarszawa : _bPKN, _c1996.
300			_a17 stron ; _c30 cm.
336			_2rdacontent _aTekst _btxt
337			_2rdamedia _aBez urządzenia pośredniczącego _bn
338			_2rdacarrier _aWolumin _bnc
500			_aNiniejsza norma jest tłumaczeniem oficjalnej wersji normy IEC 444-3:1986 [...].
500			_aWprowadza IEC TR 60444-3:1986, IDT ; Ustanowiona przez Polski Komitet Normalizacyjny dnia 5 lutego 1996 r.
710			_91107 _aPolska. _bPolski Komitet Normalizacyjny. _eInstytucja sprawcza
920			_a83-7001-842-4
942			_2ddc _cBK