000 00398 a2200085 4500
999 _c20645
_d20645
003 WA 310
005 20220322132220.0
008 220322s1996 pl ||||| |||| 00| 0 pol d
020 _a8370018424
040 _aWA 310
_cWA 310
041 _apol
245 0 0 _aPomiar parametrów rezonatora kwarcowego w czwórniku typu Pi z wykorzystaniem techniki zera fazy - Metoda pomiaru pojemności dynamicznej rezonatorów kwarcowych techniką uchybu fazy =
_bMeasurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a -network - Part 2: Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units PN-IEC 444-2:1996P /
_cNKP nr 58.
246 1 3 _aPN-IEC 444-2
246 1 3 _aICS 31.140
246 1 3 _aPolska Norma
260 _aWarszawa :
_bPKN,
_c1996.
300 _a13 stron ;
_c30 cm.
336 _2rdacontent
_aTekst
_btxt
337 _2rdamedia
_aBez urządzenia pośredniczącego
_bn
338 _2rdacarrier
_aWolumin
_bnc
500 _aNiniejsza norma jest tłumaczeniem oficjalnej wersji normy IEC 444-2:1980 [...].
500 _aWprowadza IEC 60444-2:1980, IDT ; Ustanowiona przez Polski Komitet Normalizacyjny dnia 5 lutego 1996 r.
590 _6Status: wycofana.
710 _91107
_aPolska.
_bPolski Komitet Normalizacyjny.
_eInstytucja sprawcza
920 _a83-7001-842-4
942 _2ddc
_cBK