000			00479 a2200085 4500
999			_c20644 _d20644
003			WA 310
005			20220322130927.0
008			220322s1996 pl ||||| |||| 00| 0 pol d
020			_a8370018424
040			_aWA 310 _cWA 310
041			_apol
245	0	0	_aPomiar parametrów rezonatora kwarcowego w czwórniku typu Pi z wykorzystaniem techniki zera fazy - Podstawowa metoda pomiaru częstotliwości rezonansowej i rezystancji rezonansowej rezonatorów kwarcowych w czwórniku typu Pi z wykorzystaniem techniki zera fazy = _bMeasurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a -network - Part 1: Basic method for the measurement of resonance frequency and resonance resistance of quartz crystal units by zero phase technique in a -network PN-IEC 444-1:1996P / _cNKP nr 58.
246	1	3	_aPN-IEC 444-1
246	1	3	_aICS 31.140
246	1	3	_aPolska Norma
260			_aWarszawa : _bPKN, _c1996.
300			_a22 stron ; _c30 cm.
336			_2rdacontent _aTekst _btxt
337			_2rdamedia _aBez urządzenia pośredniczącego _bn
338			_2rdacarrier _aWolumin _bnc
500			_aNiniejsza norma jest tłumaczeniem oficjalnej wersji normy IEC 444-1:1986 [...].
500			_aWprowadza IEC 60444-1:1986, IDT ; Ustanowiona przez Polski Komitet Normalizacyjny dnia 5 lutego 1996 r.
590			_6Status: wycofana ; Zastąpiona przez PN-EN 60444-1:2002 wersja polska.
710			_91107 _aPolska. _bPolski Komitet Normalizacyjny. _eInstytucja sprawcza
920			_a83-7001-842-4
942			_2ddc _cBK