000 00352 a2200085 4500
999 _c20544
_d20544
003 WA 310
005 20220113134915.0
008 220113s2006 pl |||f u||| 000 0 pol d
020 _a8324392262
040 _aWA 310
_cWA 310
041 _apol
_heng
245 0 0 _aZłącza do urządzeń elektronicznych - Badania i pomiary - Część 6-2: Badania naprężeń dynamicznych - Badanie 6b: Udary wielokrotne =
_bConnectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 6-2: Dynamic stress tests - Test 6b: Bump PN-EN 60512-6-2:2006P /
_cKT nr 241.
246 1 3 _aPN-EN 60512-6-2
246 1 3 _aICS 31.220.10
246 1 3 _aPolska Norma
246 3 1 _aConnectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 6-2: Dynamic stress tests - Test 6b: Bump
260 _aWarszawa :
_bPKN,
_c2006.
300 _a6 stron ;
_c30 cm.
336 _2rdacontent
_aTekst
_btxt
337 _2rdamedia
_aBez urządzenia pośredniczącego
_bn
338 _2rdacarrier
_aWolumin
_bnc
500 _aWprowadza EN 60512-6-2:2002, IDT, IEC 60512-6-2:2002, IDT ; Zastępuje PN-EN 60512-6-2:2002 (U) ; Zatwierdzona 7 lutego 2006 r.
500 _aNorma Europejska EN 60512-6-2:2002 ma status Polskiej Normy.
590 _6Status: aktualna.
710 _91107
_aPolska.
_bPolski Komitet Normalizacyjny.
_eInstytucja sprawcza
_eWydawca
920 _a83-243-9226-2
942 _2ddc
_cBK