000 01478cam a2200313 i 4500
999 _c19498
_d19498
001 vtls000830578
003 NUKAT
005 20220113134132.0
008 070118s2006 pl f u |000 0 pol c
020 _a8325115718
035 _azz2007761537
039 9 _a201312160124
_bVLOAD
_c201312130143
_dVLOAD
_c200703121334
_dkoppp
_c200702050623
_dkopumk
040 _aKIEL 008/BD
_cKIEL 008/BD
_dKIEL 008/JK
041 1 _apol
_heng
245 0 0 _aZłącza do urządzeń elektronicznych - Badania i pomiary - Część 6-1: Badania naprężeń dynamicznych - Badanie 6a: Przyspieszenie stałe PN-EN 60512-6-1:2006P /
_cPolski Komitet Normalizacyjny.
246 3 0 _aPN-EN 60512-6-1:2006
246 1 3 _aConnectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 6-1: Dynamic stress tests - Test 6a: Acceleration, steady state (IEC 60512-6-1:2002)
260 _aWarszawa :
_bPolski Komitet Normalizacyjny,
_c2006.
300 _a2, 6 s. ;
_c30 cm.
500 _aICS 31.220.10.
590 _aWprowadza EN 60512-6-1:2002, IDT; IEC 60512-6-1:2002, IDT; Zastępuje PN-EN 60512-6-1:2002 (U); Zatwierdzona 5 grudnia 2006 r.
590 _aStatus: aktualna.
951 _aKIEL_008
710 1 _aPolska.
_bPolski Komitet Normalizacyjny.
_91107
710 1 _aPolska.
_bPolski Komitet Normalizacyjny.
_bWydział Wydawnictw Normalizacyjnych.
_4pbl
_91108
942 _2ddc
_cBK