| 000 | 01691cam a2200445 i 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 005 | 20171212141826.0 | ||
| 008 | 961113s1981 pl a g |000 0 pol c | ||
| 020 | _a832040214X | ||
| 035 | _axx001668219 | ||
| 039 | 9 |
_a201705101422 _bkopilwa _c201507061216 _dagh14 _c201503111547 _dkoppbwkr _c201402190121 _dVLOAD _y201005150752 _zVLOAD |
|
| 040 |
_aNUKAT _cLUBL 64/AGPr _dWA U/82JG _dGL 001/JK _dGL 001/ACHs |
||
| 041 | 0 |
_apol _beng _arus |
|
| 100 | 1 |
_aStybliński, Maciej _d(1943?-1997). |
|
| 245 | 1 | 0 |
_aMetody analizy i optymalizacji tolerancji parametrów układów elektronicznych / _cMaciej Stybliński. |
| 260 |
_aWarszawa : _bWydawnictwa Naukowo-Techniczne, _c1981. |
||
| 300 |
_a241 s. : _bil. ; _c24 cm. |
||
| 490 | 1 | _aUSE Układy i Systemy Elektroniczne | |
| 504 | _aBibliogr. s. 221-236. | ||
| 521 | 8 | _aDla pracowników naukowych, inżynierów elektroników oraz studentów wyższych lat wydz. elektrycznych i elektroniki. | |
| 546 | _aNa obwolucie streszcz. ang. i ros. | ||
| 650 | _aAnaliza obwodów elektrycznych. | ||
| 650 |
_aUkłady elektroniczne _xobliczenia. |
||
| 710 | 2 |
_aWydawnictwa Naukowo-Techniczne. _4pbl |
|
| 830 | 0 | _aUSE Układy i Systemy Elektroniczne | |
| 920 | _a83-204-0214-X | ||
| 953 | _aKR_93 | ||
| 956 | _aKR_121 | ||
| 959 | _aLUBL_64 | ||
| 960 | _aGD_101 | ||
| 961 | _aWA_310 WA_72 | ||
| 968 | _aTOR_U | ||
| 970 | _aWA_U | ||
| 972 | _aWR_004 | ||
| 973 | _aGL_001 | ||
| 974 | _aWR_16 | ||
| 978 | _aOLSZT_003 | ||
| 979 | _aBSTOK_U | ||
| 980 | _aSZCZ_ZUT | ||
| 999 |
_aVIRTUA _c18587 _d18587 |
||
| 999 | _aVTLSSORT0010*0080*0200*0350*0390*0400*0410*1000*2450*2600*3000*4900*5040*5210*5460*6500*6501*7100*8300*9200*9520*9590*9600*9610*9680*9700*9720*9730*9740*9780*9790*9992 | ||