000 01704cam a2200493 i 4500
999 _c17791
_d17791
001 vtls000249474
003 NUKAT
005 20190306141453.0
008 040304s2004 pl a f |001 0 pol c
020 _a8320428882
035 _azz2004862210
039 9 _a201712290009
_bAUTHORITY
_c201703310938
_dkopielwar
_c201612140221
_dVLOAD
_c201612130759
_dagh
040 _aTOR U/FIZER
_cTOR U/FIZER
_dTOR U/AP
_dLUBL 64/WSs
_dGL 001/FMM
_dKR 93/BJs
099 _ahh_364907
245 0 0 _aWspółczesna metrologia :
_bzagadnienia wybrane /
_cJerzy Barzykowski [et al.].
260 _aWarszawa :
_bWydawnictwa Naukowo-Techniczne,
_ccop. 2004.
300 _a573, [1] s. :
_bil. ;
_c24 cm.
504 _aBibliogr. przy rozdz. Indeks.
536 _aKsiążka dofinansowana przez Ministra Nauki - Przewodniczącego Komitetu Badań Naukowych
650 _aPomiar
_xinnowacje.
650 _aPomiar
_xtechniki.
650 _aSieci neuronowe (informatyka).
951 _aKIEL_008
700 1 _aBarzykowski, Jerzy
_d(1930-2017).
710 2 _aWydawnictwa Naukowo-Techniczne.
_4pbl
_919
982 _aBYDG_22 BYDG_24
942 _2ddc
_cBK
956 _aKR_119
980 _aSZCZ_ZUT