000 01434cam a2200361 i 4500
999 _c16461
_d16461
001 vtls000005725
003 NUKAT
005 20190506121220.0
008 020731s1973 pl a |000 0 pol c
035 _azz2002950934
039 9 _a201803211202
_bvpw
_c201707281249
_dbj
_c201603250219
_dVLOAD
_c201603240240
_dVLOAD
040 _aWA U/82MAG
_cWA U/MAG
_dWA U/JG
_dWA U/EBA
041 1 _apol
_heng
245 0 0 _aProjektowanie układów TTL obwodami scalonymi /
_cW. D. Anderson [et al.] ; [tł.: W. Czarnecki i W. Szajnowski].
246 1 _iTyt. oryg.:
_aDesigning with TTL integrated circuits
260 _aWarszawa :
_bOśrodek Informacji o Energii Jądrowej ;
_c1973.
300 _a403 s. :
_brys. ;
_c20 cm.
490 1 _aPostępy Techniki Jądrowej. Seria: Aparatura i Technika Pomiarowa ;
_vnr 73
500 _aW serii gł.: nr 552.
650 _aUkłady TTL.
650 _aUkłady scalone.
_91340
700 1 _aAnderson, W. D.
700 1 _aCzarnecki, Witold
_c(elektronika).
_eTł.
700 1 _aSzajnowski, Wiesław.
_eTł.
830 0 _aBiblioteka "Postępów Techniki Jądrowej".
_pAparatura i Technika Pomiarowa
_vnr 73
830 0 _aBiblioteka "Postępów Techniki Jądrowej"
_vnr 552
942 _2ddc
_cBK