000 01274cam a2200397 i 4500
999 _c13017
_d13017
001 vtls001478620
003 NUKAT
005 20180807111717.0
008 091201s1972 pl a f |001 0 pol c
035 _axx001478620
039 9 _a201801160834
_bvuwm
_c201709061256
_dvagh
_c201606141149
_dkopps
_c201511052127
_dkopumk
040 _aKR U/28JW
_cKR U/28JWs
_dKR U/28JW
_dGL 001/FAN
100 1 _aStolarski, Edward
_d(1928-1999).
245 1 0 _aMiernictwo tranzystorowe /
_cEdward Stolarski.
250 _aWyd. 3 zm.
260 _aWarszawa :
_bWydawnictwa Naukowo-Techniczne,
_c1972.
300 _a283, [1] s. :
_bil. ;
_c21 cm.
490 1 _aUkłady Tranzystorowe
504 _aBibliogr. s. 280-282. Indeks.
650 _aPomiary elektryczne.
650 _aTranzystory
_xpomiar.
710 2 _aWydawnictwa Naukowo-Techniczne.
_4pbl
_919
830 0 _aUkłady Tranzystorowe
942 _2ddc
_cBK
980 _aSZCZ_ZUT