000 01071cam a2200361 i 4500
005 20171212141727.0
008 071113s1984 pl a g |001 0 pol c
020 _a8320405831
035 _azz2007891481
039 9 _a201709061256
_bvagh
_c201703151346
_dkopilwa
_c201606141151
_dkopps
_c201308090114
_dVLOAD
_y200711131628
_zvbj32
040 _aKR U/32BN
_cKR U/32BN
_dKR U/32BN
_dKR U/28JW
100 1 _aStolarski, Edward
_d(1928-1999).
245 1 0 _aMiernictwo tranzystorowe /
_cEdward Stolarski.
250 _aWyd. 4 zm.
260 _aWarszawa :
_bWydawnictwa Naukowo-Techniczne,
_c1984.
300 _a287, [1] s. :
_bil. ;
_c22 cm.
504 _aBibliogr. s. [286]. Indeks.
650 _aTranzystory
_xpomiar.
710 2 _aWydawnictwa Naukowo-Techniczne.
_4pbl
920 _a83-204-0583-1
953 _aKR_93
958 _aLUBL_58
959 _aLUBL_64
960 _aGD_101
961 _aWA_310
962 _aKR_U
968 _aTOR_U
970 _aWA_U
971 _aL_30
973 _aGL_001 KAT_U
979 _aBSTOK_U
980 _aSZCZ_ZUT
999 _aVIRTUA m
_c13016
_d13016