| 000 | 01194cam a2200349 i 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 999 |
_c12364 _d12364 |
||
| 001 | vtls000347719 | ||
| 003 | NUKAT | ||
| 005 | 20180928132702.0 | ||
| 008 | 040921s1975 pl a |000 0 pol c | ||
| 035 | _azz2004792103 | ||
| 039 | 9 |
_a201703200904 _bbuwr _c201512141012 _dpl _c201308121359 _dkopub _c201306251326 _dkoppwr |
|
| 040 |
_aLUBL 58/ER _cLUBL 58/ER _dLUBL 58/ER _dKR 93/MSs |
||
| 100 | 1 | _aŚwiderski, Jarosław. | |
| 245 | 1 | 0 |
_aTechniczne badania właściwości materiałów i struktur półprzewodnikowych / _cJarosław Świderski. |
| 260 |
_aWarszawa : _bPaństwowe Wydaw. Naukowe, _c1975. |
||
| 300 |
_a135 s. : _brys. ; _c24 cm. |
||
| 490 | 1 |
_aBiblioteka Elektroniki ; _v15 |
|
| 504 | _aBibliogr. 129-135. | ||
| 650 |
_aPółprzewodniki _xbadania. |
||
| 650 |
_aPółprzewodniki _xpomiar. |
||
| 830 | 0 |
_aBiblioteka Elektroniki _v15 |
|
| 942 |
_2ddc _cBK |
||
| 980 | _aSZCZ_ZUT | ||