000 01377nam a2200361 i 4500
999 _c12323
_d12323
001 vtls002746646
003 NUKAT
005 20180514105056.0
008 130212s1967 pl a f |000 0 pol c
035 _axx002746646
039 9 _a201708311155
_bvus2
_c201604040946
_dkopps
_c201512141443
_dvapkr
_c201509172358
_dkopumk
040 _aGL 001/ML
_cGL 001/ML
100 1 _aŠifrin-Kryžalovskij, Ûlij Aleksandrovič.
240 1 0 _aTeplovaâ ustojčivost' tranzistorov i nadežnost' radioèlektronnoj apparatury
_l(pol.)
245 1 0 _aStabilność cieplna tranzystorów /
_cJ. A. Szyfrin-Kryżałowski, W. S. Mitin ; tł. Andrzej Bartosiak.
260 _aWarszawa :
_bWydawnictwa Naukowo-Techniczne,
_c1967.
300 _a178, [2] s. :
_bil., err. ;
_c21 cm.
504 _aBibliogr. s. [180].
650 _aTranzystory
_xprojektowanie i konstrukcja.
650 _aTranzystory
_xniezawodność.
650 _aPrzebicie (elektryczność).
650 _aStabilność.
700 1 _aMitin, Vladislav Sergeevič.
700 1 _aBartosiak, Andrzej.
_eTł.
710 2 _aWydawnictwa Naukowo-Techniczne.
_4pbl
_919
942 _2ddc
_cBK
956 _aKR_119
980 _aSZCZ_ZUT