000 01530cam a2200445 i 4500
005 20171212141503.0
008 030512s1987 pl a f |000 0 pol c
020 _a8301071729
035 _azz2003866102
039 9 _a201702151400
_bkopilwa
_c201504281313
_dvpski
_c201410291327
_dkoppp
_c201410150941
_duepozn
_y200305121005
_zvagh
040 _aKR 93/TS
_cKR 93/TS
_dKR 93/AP
_dKR 93/MKs
100 1 _aSapiecha, Krzysztof.
245 1 0 _aTestowanie i diagnostyka systemów cyfrowych /
_cKrzysztof Sapiecha.
260 _aWarszawa :
_bPaństwowe Wydaw. Naukowe,
_c1987.
300 _a381 s. :
_brys. ;
_c21 cm.
490 1 _aBiblioteka Informatyki
504 _aBibliogr. przy rozdz.
650 _aUkłady scalone cyfrowe
_xprojektowanie i konstrukcja.
650 _aUkłady scalone cyfrowe
_xpróby.
650 _aWykrywanie uszkodzeń (inżynieria).
710 2 _aPaństwowe Wydawnictwo Naukowe (1951-1992).
_4pbl
830 0 _aBiblioteka Informatyki
920 _a83-01-07172-9
951 _aKIEL_008 KIEL_010
953 _aKR_93
956 _aKR_119
957 _aKR_197
959 _aLUBL_64
960 _aGD_U
961 _aWA_310
962 _aKR_U
966 _aPOZN_004 POZN_31 POZN_U
968 _aTOR_U
970 _aWA_U
971 _aL_30 L_U
973 _aKAT_U
978 _aOLSZT_003
980 _aSZCZ_ZUT
999 _aVIRTUA10 m
_c11155
_d11155
999 _aVTLSSORT0080*0200*0350*0400*1000*2450*2600*3000*4900*5040*6500*6501*6502*8300*9200*9510*9520*9530*9560*9570*9590*9600*9620*9660*9680*9700*9710*9730*9780*9992