|
|
641.
|
Przyrządy półprzewodnikowe Cyfrowe układy scalone - Metody pomiaru parametrów Zmiana 1 PN-91/T-01302/03/A1 / Min.Przemysłu. Wydawca: Warszawa : Min.Przemysłu, 1993Inny tytuł: PN-91/T-01302/03/A1 | 621.38.049.77.Status: Egzemplarze dostępne na miejscu: [Sygnatura: PN-91/T-01302/03/A1] (1).
|
|
|
642.
|
Przyrządy półprzewodnikowe Cyfrowe układy scalone - Metody pomiaru parametrów PN-91/T-01302/03 / Min.Przemysłu. Wydawca: Warszawa : Min.Przemysłu, 1991Inny tytuł: PN-91/T-01302/03 | 621.38.049.77:621.317.3.Status: Egzemplarze dostępne na miejscu: [Sygnatura: PN-91/T-01302/03] (1).
|
|
|
643.
|
Przyrządy półprzewodnikowe Cyfrowe układy scalone - Podstawowe graniczne wartości dopuszczalne i wartości charakterystyczne Zmiana 1 PN-91/T-01302/02/A1 / M P i Handlu. Wydawca: Warszawa : M P i Handlu, 1993Inny tytuł: PN-91/T-01302/02/A1 | 621.38.049.77.Status: Egzemplarze dostępne na miejscu: [Sygnatura: PN-91/T-01302/02/A1] (1).
|
|
|
644.
|
Przyrządy półprzewodnikowe Cyfrowe układy scalone - Podstawowe graniczne wartości dopuszczalne i wartości charakterystyczne PN-91/T-01302/02 / Min.Przemysłu. Wydawca: Warszawa : Min.Przemysłu, 1991Inny tytuł: PN-91/T-01302/02 | 621.38.049.77.Status: Egzemplarze dostępne na miejscu: [Sygnatura: PN-91/T-01302/02] (1).
|
|
|
645.
|
Przyrządy półprzewodnikowe Cyfrowe układy scalone - Terminologia i oznaczenia literowe Zmiana 1 PN-91/T-01302/01/A1 / M P i Handlu. Wydawca: Warszawa : M P i Handlu, 1993Inny tytuł: PN-91/T-01302/01/A1 | 621.38.049.77:001.4.Status: Egzemplarze dostępne na miejscu: [Sygnatura: PN-91/T-01302/01/A1] (1).
|
|
|
646.
|
Przyrządy półprzewodnikowe Układy scalone - Część ogólna PN-88/T-01301 / Min.Przemysłu. Wydawca: Warszawa : Min.Przemysłu, 1988Inny tytuł: PN-88/T-01301 | 621.38.049.77.Status: Egzemplarze dostępne na miejscu: [Sygnatura: PN-88/T-01301] (1).
|
|
|
647.
|
Przyrządy półprzewodnikowe Przyrządy dyskretne Diody sygnałowe - (z włączeniem diod przełączających ) i diody stabilizujące Ramowa norma szczegółowa dla diod sygnałowych, diod przełączających i diod lawinowych o kontrolowanym napięciu przebicia PN-T-01213-1 / TEWA. Wydawca: Warszawa : TEWA, 1994Inny tytuł: PN-T-01213-1.Status: Egzemplarze dostępne na miejscu: [Sygnatura: PN-T-01213-1] (1).
|
|
|
648.
|
Przyrządy półprzewodnikowe Przyrządy dyskretne Diody prostownicze - Ramowa norma szczegółowa dla diod prostowniczych (z włączeniem lawinowych diod prostowniczych), o określonej temperaturze otoczenia i obudowy, dla prądów do 100 A PN-T-01212-1 / TEWA. Wydawca: Warszawa : TEWA, 1994Inny tytuł: PN-T-01212-1.Status: Egzemplarze dostępne na miejscu: [Sygnatura: PN-T-01212-1] (1).
|
|
|
649.
|
Przyrządy półprzewodnikowe Przyrządy dyskretne Tranzystory bipolarne - Ramowa norma szczegółowa dla tranzystorów bipolarnych małej częstotliwości o określonej dopuszczalnej temperaturze obudowy PN-92/T-01210.01 / M P i Handlu. Wydawca: Warszawa : M P i Handlu, 1992Inny tytuł: PN-92/T-01210.01 | 621.38.049.77:621.382.33.Status: Egzemplarze dostępne na miejscu: [Sygnatura: PN-92/T-01210.01] (1).
|
|
|
650.
|
Przyrządy półprzewodnikowe Tranzystory bipolarne - Metody pomiaru parametrów PN-92/T-01208.03 / M P i Handlu. Wydawca: Warszawa : M P i Handlu, 1992Inny tytuł: PN-92/T-01208.03 | 621.382:621.315.592.Status: Egzemplarze dostępne na miejscu: [Sygnatura: PN-92/T-01208.03] (1).
|
|
|
651.
|
Przyrządy półprzewodnikowe Tranzystory bipolarne Podstawowe wartości - dopuszczalne i charakterystyczne PN-92/T-01208.02 / M Przemysłu. Wydawca: Warszawa : M Przemysłu, 1992Inny tytuł: PN-92/T-01208.02 | 621.382:621.315.582.Status: Egzemplarze dostępne na miejscu: [Sygnatura: PN-92/T-01208.02] (1).
|
|
|
652.
|
Wyroby elektrotechniczne - Próby środowiskowe. Badanie zagrożenia ogniowego. Wytyczne dla podzespołów elektronicznych PN-88/E-04614.02 / Instytut Elektrotechniki Wrocław. Wydawca: Warszawa : Instytut Elektrotechniki Wrocław, 1988Inny tytuł: PN-88/E-04614.02 | 621.38.04;620.193.94.Status: Egzemplarze dostępne na miejscu: [Sygnatura: PN-88/E-04614.02] (1).
|
|
|
653.
|
Wyroby elektrotechniczne - Próby środowiskowe. Badanie zagrożenia ogniowego. Wytyczne ogólne PN-89/E-04614.01 / Instytut Elektrotechniki Wrocław. Wydawca: Warszawa : Instytut Elektrotechniki Wrocław, 1989Inny tytuł: PN-89/E-04614.01 | 621.3.002.6;614.841.41.536.468.Status: Egzemplarze dostępne na miejscu: [Sygnatura: PN-89/E-04614.01] (1).
|
|
|
654.
|
Wyroby elektrotechniczne - Proby środowiskowe. Wytyczne do próby N - zmiany temperatury PN-85/E-04613.02 / Instytut Elektrotechniki Wrocław. Wydawca: Warszawa : Instytut Elektrotechniki Wrocław, 1985Inny tytuł: PN-85/E-04613.02 | 621.31.002.6;620.193.2.Status: Egzemplarze dostępne na miejscu: [Sygnatura: PN-85/E-04613.02] (1).
|
|
|
655.
|
Kompatybilność elektromagnetyczna - Metody pomiaru charakterystyk tłumienności biernych filtrów i elementów przeciwzakłóceniowych PN-CISPR 17:2000P / NKP nr 58. Wydawca: Warszawa : NKP nr 58, 2000Inny tytuł: PN-CISPR 17.Status: Egzemplarze dostępne na miejscu: [Sygnatura: PN-CISPR 17:2000P] (1).
|
|
|
656.
|
Urządzenia mikrofalowe. Anteny - Wzorce zysku typu TOP Obliczanie i wzorcowanie PN-64/T-80317 / Min. Przem. Ciężkiego. Wydawca: Warszawa : Min. Przem. Ciężkiego, 1964Inny tytuł: PN-64/T-80317 | 621.396.67:53.081.001.24.Status: Egzemplarze dostępne na miejscu: [Sygnatura: PN-64/T-80317] (1).
|
|
|
657.
|
Elementy urządzeń elektronicznych - Rezonatory kwarcowe Zarysy i wymiary obudów PN-60/T-80400.00 / Min. Przem. Maszynowego. Wydawca: Warszawa : Min. Przem. Maszynowego, 1980Inny tytuł: PN-60/T-80400.00 | 621.372.41:621.38.04.Status: Egzemplarze dostępne na miejscu: [Sygnatura: PN-60/T-80400.00] (1).
|
|
|
658.
|
Badania środowiskowe - Część 2-14: Próby - Próba N: Zmiany temperatury PN-EN 60068-2-14:2009E / KT nr 282. Wydawca: Warszawa : KT nr 282, 2009Inny tytuł: PN-EN 60068-2-14:2009E.Status: Egzemplarze dostępne na miejscu: [Sygnatura: PN-EN 60068-2-14:2009E] (1).
|
|
|
659.
|
Światłowodowe złącza i elementy bierne - -- Podstawowe procedury badań i pomiarów -- Część 2-46: Badania -- Cykliczne wilgotne gorąco PN-EN 61300-2-46:2007E / KT nr 282. Wydawca: Warszawa : KT nr 282, 2007Inny tytuł: PN-EN 61300-2-46:2007E.Status: Egzemplarze dostępne na miejscu: [Sygnatura: PN-EN 61300-2-46:2007E] (1).
|
|
|
660.
|
Lakiery elektroizolacyjne - Metody badań. Sprawdzanie zdolności schnięcia w grubej warstwie PN-85/E-04410.06 / Instytut Elektrotechniki Wrocław. Wydawca: Warszawa : Instytut Elektrotechniki Wrocław, 1985Inny tytuł: PN-85/E-04410.06 | 667.637.4:621.315.617.4:667.Status: Egzemplarze dostępne na miejscu: [Sygnatura: PN-85/E-04410.06] (1).
|
