Sowiński, Andrzej  (1922-1996). <br/><br/>
Automatyczne testowanie w mikroelektronice / 
Andrzej Sowiński. 
 - Warszawa :  Wydawnictwa Komunikacji i Łączności,  1991. 
 - 432 s., [1] k. tabl. luz. :  il. ;  24 cm. 
<br/><br/>Bibliogr. s. 415-432. 
<br/><br/><label>ISBN: </label>8320609569 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Mikrokomputery--próby.<br/>Układy scalone cyfrowe--próby.<br/>Mikroprocesory--próby.