Pomiar parametrów rezonatora kwarcowego w czwórniku typu Pi z wykorzystaniem techniki zera fazy - Metoda pomiaru pojemności dynamicznej rezonatorów kwarcowych techniką uchybu fazy =  Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a -network - Part 2: Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units PN-IEC 444-2:1996P / 
 PN-IEC 444-2  ICS 31.140  Polska Norma 
NKP nr 58. 
 - Warszawa :   PKN,   1996. 
 - 13 stron ;   30 cm. 
<br/><br/> Niniejsza norma jest tłumaczeniem oficjalnej wersji normy IEC 444-2:1980 [...].  Wprowadza IEC 60444-2:1980, IDT ; Ustanowiona przez Polski Komitet Normalizacyjny dnia 5 lutego 1996 r. 
<br/><br/><label>ISBN: </label>8370018424