Współczesna metrologia :  zagadnienia wybrane / 
Jerzy Barzykowski [et al.]. 
 - Warszawa :  Wydawnictwa Naukowo-Techniczne,  cop. 2004. 
 - 573, [1] s. :  il. ;  24 cm. 
<br/><br/>Bibliogr. przy rozdz. Indeks. 
<br/><br/><label>ISBN: </label>8320428882 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Pomiar--innowacje.<br/>Pomiar--techniki.<br/>Sieci neuronowe (informatyka).