Widok standardowy Widok MARC Widok ISBD

International Symposium on Electromagnetic Compatibility / .

Wydawca: New York, NY : IEEE, 1985Opis: 629 s.: il.; 28 cm.

Tagi: Brak tagów dla tego tytułu. Zaloguj się, aby dodać tagi.

Brak egzemplarzy dla tego rekordu

Brak komentarzy dla tego tytułu.

Zaloguj się jeśli chcesz wysłać komentarz.

Koha online