Widok standardowy Widok MARC Widok ISBD

Conference on Electronic Test and Measuring Instrumentation TESTMEX 79 / .

Institution of Electrical Engineering [Wydawca ].

Wydawca: London : IEE, 1979Opis: VII, 157 s.; 35 cm.

Tagi: Brak tagów dla tego tytułu. Zaloguj się, aby dodać tagi.

Egzemplarze ( 0 )
Komentarze ( 0 )

Brak egzemplarzy dla tego rekordu

Brak komentarzy dla tego tytułu.

Zaloguj się jeśli chcesz wysłać komentarz.

Działa dzięki Koha