Podstawy metrologii / Jan Obalski.
Obalski, Jan.
Politechnika Warszawska. Wydawnictwa (1958?-1992) [pbl].
Rodzaj materiału:
KsiążkaSerie: Skrypty WPW: Wydawca: Warszawa : Wydawnictwa Politechniki Warszawskiej, 1966Opis: 298 s. : il. ; 25 cm.Tematy: Pomiar -- podręczniki akademickie
| Typ dokumentu | Obecna lokalizacja | Sygnatura | Status | Termin zwrotu |
|---|---|---|---|---|
Książki
|
Magazyn | 21323 (Przeglądaj półkę) | Dostępny |
Bibliogr. s. 297-298.
Brak komentarzy dla tego tytułu.