Witamy w Bibliotece Naukowej Instytutu Łączności!

Widok standardowy Widok MARC Widok ISBD

Automatyczne testowanie w mikroelektronice / Andrzej Sowiński.

Sowiński, Andrzej, (1922-1996).
Wydawnictwa Komunikacji i Łączności [pbl].
Rodzaj materiału: materialTypeLabelKsiążkaWydawca: Warszawa : Wydawnictwa Komunikacji i Łączności, 1991Opis: 432 s., [1] k. tabl. luz. : il. ; 24 cm.ISBN: 8320609569.Tematy: Mikrokomputery -- próby | Układy scalone cyfrowe -- próby | Mikroprocesory -- próby
Tagi: Brak tagów dla tego tytułu. Zaloguj się, aby dodać tagi.
    średnia ocena: 0.0 (0 głosów)
Typ dokumentu Obecna lokalizacja Sygnatura Status Termin zwrotu
Książki Książki Magazyn 36735 (Przeglądaj półkę) Dostępny

Bibliogr. s. 415-432.

Brak komentarzy dla tego tytułu.

Zaloguj się jeśli chcesz wysłać komentarz.

Działa dzięki Koha