Pomiar parametrów rezonatora kwarcowego w czwórniku typu Pi z wykorzystaniem techniki zera fazy - Metoda pomiaru pojemności dynamicznej rezonatorów kwarcowych techniką uchybu fazy = Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a -network - Part 2: Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units PN-IEC 444-2:1996P / NKP nr 58.
Polska. Polski Komitet Normalizacyjny [Instytucja sprawcza]
.
Wydawca: Warszawa : PKN, 1996Opis: 13 stron ; 30 cm.Typ zawartości: Tekst Tryb odtwarzania: Bez urządzenia pośredniczącego Typ nośnika: WoluminISBN: 8370018424.Inny tytuł: PN-IEC 444-2 [Inny tytuł] | ICS 31.140 [Inny tytuł] | Polska Norma [Inny tytuł].
| Typ dokumentu | Obecna lokalizacja | Sygnatura | Status | Uwagi | Termin zwrotu |
|---|---|---|---|---|---|
Książki
|
Księgozbiór Podręczny | PN-IEC 444-2:1996P (Przeglądaj półkę) | Nie do wypożyczenia | print, wycofana |
Niniejsza norma jest tłumaczeniem oficjalnej wersji normy IEC 444-2:1980 [...].
Wprowadza IEC 60444-2:1980, IDT ; Ustanowiona przez Polski Komitet Normalizacyjny dnia 5 lutego 1996 r.
Status: wycofana.
Brak komentarzy dla tego tytułu.