Techniczne badania właściwości materiałów i struktur półprzewodnikowych / Jarosław Świderski.
Świderski, Jarosław.
Rodzaj materiału:
KsiążkaSerie: Biblioteka Elektroniki: 15Wydawca: Warszawa : Państwowe Wydaw. Naukowe, 1975Opis: 135 s. : rys. ; 24 cm.Tematy: Półprzewodniki -- badania | Półprzewodniki -- pomiar
| Typ dokumentu | Obecna lokalizacja | Sygnatura | Status | Termin zwrotu |
|---|---|---|---|---|
Książki
|
Magazyn | 30100 (Przeglądaj półkę) | Dostępny |
Przeglądanie Instytut Łączności Półki , Lokalizacja półki: Magazyn Zakończ przeglądanie półki
Bibliogr. 129-135.
Brak komentarzy dla tego tytułu.