Witamy w Bibliotece Naukowej Instytutu Łączności!

Widok standardowy Widok MARC Widok ISBD

Podstawy niezawodności elementów elektronicznych / Roman F. Szeloch.

Szeloch, Roman F, (1931- ).
Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza [pbl].
Rodzaj materiału: materialTypeLabelKsiążkaSerie: Skrypty - Politechnika Wrocławska: Wydawca: Wrocław : Wydawnictwo Politechniki Wrocławskiej, 1976Opis: 100 s. : rys., wykr. ; 24 cm.
Tagi: Brak tagów dla tego tytułu. Zaloguj się, aby dodać tagi.
    średnia ocena: 0.0 (0 głosów)
Typ dokumentu Obecna lokalizacja Sygnatura Status Termin zwrotu
Książki Książki Magazyn 31603 (Przeglądaj półkę) Dostępny

Literatura s. 96-98.

Dla studentów IV roku Wydziału Elektroniki.

Brak komentarzy dla tego tytułu.

Zaloguj się jeśli chcesz wysłać komentarz.

Działa dzięki Koha